GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法国家标准(GB)-工标网

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标准简介

本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。


英文名称：	Test methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
标准状态：	已作废
替代情况：	替代GB 1555-1979;GB 1556-1979;GB 5254-1985;GB 5255-1985;GB 8759-1988;被GB/T 1555-2009代替
中标分类：	冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：	电气工程>>29.045半导体材料
采标情况：	＝ASTM F26-87a
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1997-01-02
实施日期：	1998-08-01
作废日期：	2010-06-01
首发日期：	1979-05-26
复审日期：	2004-10-14
归口单位：	全国半导体材料和设备标准化技术委员会
主管部门：	国家标准化管理委员会
起草单位：	峨嵋半导体材料厂
页数：	平装16开，页数：8，字数：12千字
出版社：	中国标准出版社
书号：	155066.1-14909
出版日期：	2004-04-01
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