| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 42789-2023 |
硅片表面光泽度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42789-2023E |
硅片表面光泽度的测试方法（英文版） |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42902-2023 |
碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42905-2023 |
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42907-2023 |
硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 43092-2023 |
锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43093-2023 |
镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43096-2023 |
金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 4326-1984 |
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
国家标准局
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1985-03-01 |
作废 |
| GB/T 4326-2006 |
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB 4334.9-1984 |
不锈钢 点蚀电位测量方法 |
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1985-03-01 |
作废 |
| GB/T 4339-1999 |
金属材料热膨胀特征参数的测定 |
国家质量技术监督局
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2000-08-01 |
作废 |
| GB/T 4339-2008 |
金属材料热膨胀特征参数的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-05-01 |
现行 |
| GB/T 43894.1-2024 |
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD） |
国家市场监督管理总局.
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2024-11-01 |
现行 |
| GB/T 5026-1985 |
软磁合金振幅磁导率测量方法 |
国家标准局
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1986-01-01 |
作废 |
| GB/T 5162-2021 |
金属粉末 振实密度的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
| GB/T 5163-1985 |
可渗性烧结金属材料 密度的测定 |
中国有色金属工业协.
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1986-02-01 |
作废 |
| GB/T 5163-2006 |
烧结金属材料（不包括硬质合金） 可渗性烧结金属材料 密度、含油率和开孔率的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
| GB/T 5164-1985 |
可渗性烧结金属材料 开孔率的测定 |
中国有色金属工业协.
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1986-02-01 |
作废 |
| GB/T 5165-1985 |
可渗性烧结金属材料 含油率的测定 |
中国有色金属工业协.
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1986-02-01 |
作废 |
| GB 5166-1985 |
烧结金属材料和硬质合金弹性模量的测定 |
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1986-02-01 |
作废 |
| GB/T 5166-1998 |
烧结金属材料和硬质合金弹性模量测定 |
国家质量技术监督局
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1999-08-01 |
作废 |
| GB/T 5167-1985 |
烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定 |
国家标准局
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1986-02-01 |
作废 |
| GB/T 5167-2018 |
烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2019-06-01 |
现行 |
| GB/T 5225-1985 |
金属材料定量相分析 X射线衍射K值法 |
国家标准局
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5238-1985 |
锗单晶 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5249-1985 |
可渗透性烧结金属材料 气泡试验孔径的测定 |
国家标准局
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5250-1985 |
可渗透性烧结金属材料 流体渗透性的测定 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB/T 5250-1993 |
可渗透烧结金属材料流体渗透性的测定 |
国家技术监督局
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1994-09-01 |
作废 |
| GB 5251-1985 |
锗单晶电阻率直流四探针测量方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB/T 5252-1985 |
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 |
中国有色金属工业协.
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1986-07-01 |
作废 |
| GB/T 5252-2006 |
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
作废 |
| GB/T 5252-2020 |
锗单晶位错密度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-04-01 |
现行 |
| GB 5253-1985 |
锗单晶电阻率直流两探针测量方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5254-1985 |
锗单晶晶向X光衍射测定方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5255-1985 |
锗单晶晶向光反射图象测定方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5256-1985 |
锗单晶导电类型测量方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB 5257-1985 |
锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法 |
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1986-07-01 |
作废 |
| GB/T 5778-1986 |
膨胀合金气密性试验方法 |
国家标准局
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1986-01-01 |
作废 |
| GB/T 5985-1986 |
热双金属弯曲常数测量方法 |
|
1987-03-01 |
作废 |