半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 |
 |
| 标准编号：GB/T 19199-2003 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
|
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到！ |
|
|
|
|
|
|
本标准规定了非掺杂半绝缘砷化镓晶片中碳浓度的红外吸收测试方法。本标准适用于电阻率大于1.0×10 |
|
|
|
| 英文名称： |
Test method for carbon concentration of semi-insulating monocrystal gallium arsenide by measurement infrared absorption method |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 19199-2015代替 |
| 中标分类： |
冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料 |
| ICS分类： |
电气工程>>29.045半导体材料 |
| 发布部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2003-06-16 |
| 实施日期： |
2004-01-01
|
| 作废日期： |
2016-07-01
|
| 首发日期： |
2003-06-16 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： |
全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 起草人： |
汝琼娜、段曙光、李光平 |
| 页数： |
6页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-19867 |
| 出版日期： |
2004-01-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|