|
| 英文名称： |
General rules for nanometer-scale lengthmeasurement by SEM |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>17.040 长度和角度测量
成像技术>>37.020光学设备 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2006-07-19 |
| 实施日期： |
2007-02-01
|
| 首发日期： |
2006-07-19 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院地质与地球物理研究所、同济大学，中国科学院化学所，中国地质科学院矿产资源研究所，上海理工大学 |
| 起草人： |
张训彪、曾荣树、廖宗廷、卢德生、刘芬、李戎、周剑雄、邓保庆等 |
| 计划单号： |
20030760-T-469 |
| 页数： |
17页数：17, 字数：26千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2007-02-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |