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| 英文名称： |
Evaluation of industrial high-reliability integrated circuits—Part 4:Nonvolatile memory |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2020-06-08 |
| 实施日期： |
2020-08-15
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| 提出单位： |
中国电子学会 |
| 归口单位： |
中国电子学会 |
| 起草单位： |
北京芯可鉴科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司、国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司、北京银联金卡科技有限公司等 |
| 起草人： |
赵东艳、王于波、陈燕宁、邵瑾、张相飞、张鹏、张海峰、何凡、高小飞、朱松超、赵扬、孙云龙、钟明琛、胡雪、王东山、潘成、夏军虎、周芝梅、张永峰、王宏光、任军、赵阳、易君谓、张健、张志宇、钱文生、吴汉明、宫芳、黄强、胡杰、吴峰霞 |
| 页数： |
32页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |