磁随机存储芯片数据保持时间测试方法 |
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| 标准编号：T/CIE 134-2022 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：20.0 元 |
客户评分：  |
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本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。 |
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