| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 3434-1986 |
半导体集成电路ECL电路系列和品种 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
国家标准局
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB 3436-1986 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
|
1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 3436-1996 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
| GB 3437-1982 |
半导体集成电路MOS存储器系列和品种 |
国家标准局
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
国家标准局
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3439-1982 |
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3440-1982 |
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3441-1982 |
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3442-1986 |
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 3443-1982 |
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35004-2018 |
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35006-2018 |
半导体集成电路 电平转换器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35007-2018 |
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快闪存储器接口规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快闪存储器接口规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 36474-2018 |
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 36477-2018 |
半导体集成电路 快闪存储器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2019-01-01 |
现行 |
| GB 3834-1983 |
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| GB/T 3835-1983 |
半导体集成电路接口电路系列和品种 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| GB/T 39842-2021 |
集成电路（IC）卡封装框架 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-07-01 |
现行 |
| GB/T 42744-2023 |
微波电路 电调衰减器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42835-2023 |
半导体集成电路 片上系统（SoC） |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42836-2023 |
微波半导体集成电路 混频器 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42837-2023 |
微波半导体集成电路 放大器 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42838-2023 |
半导体集成电路 霍尔电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42839-2023 |
半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42848-2023 |
半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42968.1-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42968.8-2023 |
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42969-2023 |
元器件位移损伤试验方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42970-2023 |
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42973-2023 |
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42974-2023 |
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH） |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 42975-2023 |
半导体集成电路 驱动器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43034.3-2023 |
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 43452-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43453-2023 |
模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南 |
国家市场监督管理总局.
|
2024-04-01 |
现行 |