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半导体集成电路 霍尔电路测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 42838-2023 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路电特性测试方法。
本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
英文名称:  Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2023-08-06
实施日期:  2023-12-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
起草人:  尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
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