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微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法

国家标准
标准编号:T/CIE 146-2022 标准状态:现行
标准价格:26.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了对MEMS器件晶圆键合开展试验评价的方法和程序。
本文件适用于基于晶圆键合工艺加工的MEMS器件,包括MEMS器件成品结构、晶圆键合工艺过程结构等,可用于MEMS器件的提供者、使用者和第三方评价MEMS器件晶圆键合结构的可靠性。
注: 此处第三方是指在MEMS器件产品交付过程中进行认证和提供鉴定、试验等服务的独立机构。
英文名称:  Test evaluation method for wafer level bonding of MEMS device
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中国电子学会
发布日期:  2022-12-31
实施日期:  2023-01-31
提出单位:  中国电子学会可靠性分会
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子学会可靠性分会
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所、北京大学、中国兵器工业第二一四研究所
起草人:  董显山、来萍、韦覃如、周斌、黄钦文、何小琦、杨少华、苏伟、李仕远、杜贵祯、赵前程、鞠丽娜
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
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