标准分类
最新标准
New!
标准公告
标准动态
标准论坛
高级查询
帮助
|
登录
|
注册
您的位置:
工标网
>>
电子行业标准(SJ)
>> SJ 20938-2005
收藏本站
联系客服
微波电路变频测试方法
标准编号:
SJ 20938-2005
标准状态:
现行
标准价格:
33.0
元
客户评分:
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
如何购买?问客服
标准简介
本标准规定了微波电路上变频器、下变频器电参数的测试方法。
英文名称:
Microwave circuits -- Measuring methods for frequency converters
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L55微电路综合
ICS分类:
电子学
>>
半导体器件
>>
31.080.01半导体器件综合
采标情况:
IEC 60747-16-3-2002 NEQ
发布日期:
2006-01-18
实施日期:
2006-06-01
页数:
25页
[
评论
][
关闭
]
微电路综合相关标准
第1页
第2页
SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
SJ 2817-1987 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
SJ/Z 9015.1-1987 半导体器件 集成电路 第一部分:总则
T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
T/CIE 120-2021 半导体集成电路硬件木马检测方法
T/CIE 146-2022 微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法
ZBBZH/ZS 中国石化加油集成电路(IC)卡应用规范(V1.0版)
ZB L 55001-1989 机电仪专用集成电路型号命名方法
免费下载
微电路综合标准
相关目录
半导体器件综合相关标准
第1页
JB/T 11050-2010 交流固态继电器
JB/T 9684-2000 电力半导体器件用散热器选用导则
SJ/T 10229-1991 XJ4810半导体管特性图示仪
T/CIE 119-2021 半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序
T/CIE 121-2021 逆导型IGBT的热阻测试方法
T/CIE 145-2022 辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法
T/CIE 147-2022 空间行波管加速寿命试验评估技术规范
T/QGCML 2892-2023 电动汽车电驱动用碳化硅(SiC)场效应晶体管(MOSFET)模块技术条件
T/SLEIA 0003-2024 光电耦合器可靠性评价方法
免费下载
半导体器件综合标准
相关目录
发表留言
内 容
用户:
口令:
匿名发表
客服中心
有问题?找在线客服
400-7255-888
1197428036
992023608
18976748618
13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题
帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要
更多
中国金融集成电路(IC)卡规范 (V..
半导体集成电路电压比较器测试方法的基..
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方..
半导体集成电路外形尺寸
半导体集成电路封装术语
半导体集成电路 CMOS电路测试方..
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基..
集成电路A/D和D/A转换器测试方法..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
搜索更多
中搜索:
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
中搜索:
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
中搜索:
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
中搜索:
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
中搜索:
SJ 20938-2005 微波电路变频测试方法
付款方式
-
关于我们
-
帮助中心
-
联系我们
-
诚聘英才
-
合作伙伴
-
使用条款
购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888
(工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)
QQ:
1197428036
992023608
有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved