工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> GB/T 29055-2012

太阳电池用多晶硅片

国家标准
标准编号:GB/T 29055-2012 标准状态:已作废
标准价格:20.0 客户评分:星星星星1
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了太阳电池用多晶硅片的术语定义、符号及缩略语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于铸锭多晶切片垂直于长晶方向生产的太阳电池用多晶硅片。
英文名称:  Multi-crystalline silicon wafer for solar cell
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 29055-2019代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2012-12-31
实施日期:  2013-10-01
作废日期:  2020-05-01
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位:  江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、宁波晶元太阳能有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司
起草人:  万跃鹏、唐骏、孙世龙、游达、朱华英、刘林艳、段育红
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066·1-46637
出版日期:  2013-10-01
相关搜索: 太阳电池  [ 评论 ][ 关闭 ]
前言
标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
本标准起草单位:江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、宁波晶元太阳能有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司。
本标准主要起草人:万跃鹏、唐骏、孙世龙、游达、朱华英、刘林艳、段育红。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T1551 硅单晶电阻率测定方法
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T6619 硅片弯曲度测试方法
GB/T14264 半导体材料术语
GB/T29054 太阳能级铸造多晶硅块
SEMIMF1535 用微波反射非接触光电导衰减方法测试硅晶片载流子复合寿命的方法

元素半导体材料相关标准 第1页 
 GB/T 29055-2019E 太阳能电池用多晶硅片(英文版)
 GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶
 GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片
 GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片
 GB/T 29849-2013 用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
 GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
 GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
 GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
 GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
 GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
 免费下载元素半导体材料标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
 GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
 GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
 GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱
 GB/T 30652-2014 硅外延用三氯氢硅
 GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片
 GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片
 GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
 GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底
 GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您浏览过的标准  清除
硫化橡胶伸张疲劳的测定
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
baidu 中搜索:GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
yahoo 中搜索:GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
soso 中搜索:GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
中搜索:GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved