工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB/T 30858-2014

蓝宝石单晶衬底抛光片

国家标准
标准编号:GB/T 30858-2014 标准状态:现行
标准价格:43.0 客户评分:星星星星1
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了蓝宝石单晶衬底抛光片的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、储存、质量证明书与订货单(或合同)内容。
本标准适用于单面抛光蓝宝石衬底片。
英文名称:  Polished mono-crystalline sapphire substrate product
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H83化合物半导体材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2014-07-24
实施日期:  2015-04-01
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
起草单位:  协鑫光电科技控股有限公司、中国科学院上海光机所、浙江昀丰新能源科技有限公司、浙江上城科技有限公司、江苏吉星新材料有限公司
起草人:  魏明德、黄朝晖、刘逸枫、杭寅、徐永亮、袁忠纯、蔡金荣
页数:  24页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2015-04-01
相关搜索: 蓝宝石 抛光片  [ 评论 ][ 关闭 ]
前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准主要起草单位:协鑫光电科技控股有限公司、中国科学院上海光机所、浙江昀丰新能源科技有限公司、浙江上城科技有限公司、江苏吉星新材料有限公司。
本标准主要起草人:魏明德、黄朝晖、刘逸枫、杭寅、徐永亮、袁忠纯、蔡金荣。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T1031 产品几何技术规范(GPS)表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值
GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T6619 硅片弯曲度测试方法
GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
GB/T6624 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T13387 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
GB/T14140 硅片直径测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
GB/T19921 硅抛光片表面颗粒测试方法
GB/T30857 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法

化合物半导体材料相关标准 第1页 
 GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
 GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
 GB/T 31092-2014 蓝宝石单晶晶锭
 GB/T 31092-2022 蓝宝石单晶晶棒
 GB/T 35305-2017 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
 GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
 GB/T 36706-2018 磷化铟多晶
 GB/T 37053-2018 氮化镓外延片及衬底片通用规范
 GB/T 43662-2024 蓝宝石图形化衬底片
 GB/T 43885-2024 碳化硅外延片
 免费下载化合物半导体材料标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
 GB/T 31474-2015 电子装联高质量内部互连用助焊剂
 GB/T 31475-2015 电子装联高质量内部互连用焊锡膏
 GB/T 31476-2015 电子装联高质量内部互连用焊料
 GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
 GB/T 32279-2015 硅片订货单格式输入规范
 GB/T 32573-2016 硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法
 GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
 GB/T 34479-2017 硅片字母数字标志规范
 GB/T 35307-2017 流化床法颗粒硅
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
baidu 中搜索:GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
yahoo 中搜索:GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
soso 中搜索:GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
中搜索:GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved