ICS国际标准分类[29.040.30]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 11073-1989	硅片径向电阻率变化的测量方法	国家技术监督局	1990-02-01	作废
GB 11093-1989	液封直拉法砷化镓单晶及切割片	中国有色金属工业协.	1990-03-01	作废
GB 11297.6-1989	锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法	机械电子工业部	1990-01-01	现行
GB 11297.7-1989	锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法	机械电子工业部	1990-01-01	现行
GB 11496.3-1989	彩色显示管用Y30-R1荧光粉	机械电子工业部	1990-03-01	作废
GB/T 13387-1992	电子材料晶片参考面长度测量方法	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13388-1992	硅片参考面结晶学取向X射线测量方法	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13389-1992	掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13840-1992	晶片承载器	国家技术监督局	1993-08-01	作废
GB/T 13843-1992	蓝宝石单晶抛光衬底片	国家技术监督局	1993-08-01	废止
GB/T 14015-1992	硅--蓝宝石外延片	国家技术监督局	1993-08-01	现行
GB/T 14139-1993	硅外延片	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14141-1993	硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14142-1993	硅外延层晶体完整性检验方法腐蚀法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14143-1993	300？900 UM 硅片间隙氧含量红外吸收测量方法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14144-1993	硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14145-1993	硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14146-1993	硅外延层载流子浓度测定汞探针电容--电压法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14264-1993	半导体材料术语	国家技术监督局	1993-01-02	作废
GB/T 1475-1989	镓		1990-01-01	作废
GB/T 14844-1993	半导体材料牌号表示方法	国家技术监督局	1994-09-01	作废
GB/T 14847-1993	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	国家技术监督局	1994-09-01	作废
GB/T 14849.1-1993	工业硅化学分析方法 1,10--二氮杂菲分光光度法测定铁量	国家技术监督局	1994-09-01	作废
GB/T 14849.2-1993	工业硅化学分析方法铬天青-S分光光度法测定铝量	中国有色金属工业协.	1994-09-01	作废
GB/T 14849.3-1993	工业硅化学分析方法钙量的测定	中国有色金属工业协.	1994-09-01	作废
GB/T 14863-1993	用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法	国家技术监督局	1994-10-01	作废
GB/T 14898-1994	人造金刚石用石墨片		1994-10-01	作废
GB 2881-1991	工业硅技术条件	国家技术监督局	1992-06-01	作废
GB 4298-1984	半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法	国家标准局	1985-03-01	废止
GB/T 4326-1984	非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法	国家标准局	1985-03-01	作废
GB/T 5238-1995	锗单晶	国家技术监督局	1996-03-01	作废
GB/T 5252-1985	锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法	中国有色金属工业协.	1986-07-01	作废
GB/T 6616-1995	半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6617-1995	硅片电阻率测定扩展电阻探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6618-1995	硅片厚度和总厚度变化测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6619-1995	硅片弯曲度测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6620-1995	硅片翘曲度非接触式测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6621-1995	硅抛光片表面平整度测试方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 6624-1995	硅抛光片表面质量目测检验方法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 6627-1986	人造石英晶体棒材型号命名方法	国家标准局	1987-06-01	现行

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