| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 17034-1997 |
电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17035-1997 |
电子设备用固定电阻器 第4部分:空白详细规范 带散热器的功率型固定电阻器 评定水平H |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17190-1997 |
电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
|
1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 17206-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 团体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17207-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 固体(MnO2)电解质片式铝固定电容器评定水平E |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 17207-2012 |
电子设备用固定电容器 第18-1部分：空白详细规范 表面安装固体(MnO2)电解质铝固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 17208-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝固定电容器评定水平E |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17209-1998 |
电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17444-1998 |
红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
国家质量技术监督局
|
1999-05-01 |
作废 |
| GB/T 17444-2013 |
红外焦平面阵列参数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-04-15 |
现行 |
| GB/T 17562.1-1998 |
频率低于3MHz的矩形连接器 第1部分:总规范 一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则 |
国家质量技术监督局
|
1999-07-01 |
现行 |
| GB/T 17562.8-2002 |
频率低于3MHz的矩形连接器 第8部分: 具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
现行 |
| GB/T 17564.1-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第1部分：定义——原则和方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2006-04-01 |
作废 |
| GB/T 17564.2-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第2部分：EXPRESS字典模式 |
国家质量监督检验检疫.
|
2006-04-01 |
作废 |
| GB/T 17564.4-2001 |
电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第4部分：IEC标准数据元素类型、元器件类别和项的基准集 |
国家质量监督检验检疫.
|
2002-05-01 |
作废 |
| GB/T 17564.5-2007 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第5部分: EXPRESS 字典模式扩展 |
国家质量监督检验检疫.
|
2008-01-01 |
废止 |
| GB/T 17571-1998 |
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组 |
国家质量技术监督局
|
1999-06-01 |
作废 |
| GB/T 17572-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 |
国家质量技术监督局
|
1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17573-1998 |
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 |
国家质量技术监督局
|
1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 |
国家质量技术监督局
|
1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574.10-2003 |
半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 17574.11-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.20-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17702-2013 |
电力电子电容器 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-07-01 |
作废 |
| GB/T 17702-2021 |
电力电子电容器 |
国家市场监督管理总局.
|
2021-12-01 |
现行 |
| GB/T 17702.1-1999 |
电力电子电容器 第1部分：总则 |
国家质量技术监督局
|
1999-10-01 |
作废 |
| GB/T 17702.2-1999 |
电力电子电容器 第2部分：熔丝的隔离试验、破坏试验、自愈性试验及耐久性试验的要求 |
国家质量技术监督局
|
1999-10-01 |
作废 |
| GB/T 17711-1999 |
钇钡铜氧（123 相）超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法 |
国家质量技术监督局
|
1999-10-01 |
现行 |
| GB 1772-1979 |
电子元器件失效率试验方法 |
信息产业部（电子）
|
1980-03-01 |
作废 |
| GB/T 17864-1999 |
关键尺寸（CD）计量方法 |
国家质量技术监督局
|
2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17865-1999 |
焦深与最佳聚焦的测量规范 |
国家质量技术监督局
|
2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17866-1999 |
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则 |
国家质量技术监督局
|
2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17886.1-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第1部分：总则 -- 性能、试验和定额 -- 安全要求 安装和运行导则 |
国家质量技术监督局
|
2000-05-01 |
现行 |
| GB/T 17886.2-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第2部分：老化试验和破坏试验 |
国家质量技术监督局
|
2000-05-01 |
现行 |
| GB/T 17886.3-1999 |
标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第3部分：内部熔丝 |
国家质量技术监督局
|
2000-05-01 |
现行 |
| GB 18151-2000 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
|
2000-01-02 |
作废 |
| GB/T 18151-2008 |
激光防护屏 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-10-01 |
作废 |
| GB/T 18290.2-2015 |
无焊连接 第2部分：压接连接 一般要求、试验方法和使用导则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-07-01 |
现行 |
| GB/T 18290.4-2015 |
无焊连接 第4部分：不可接触无焊绝缘位移连接 一般要求、试验方法和使用导则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-07-01 |
现行 |