| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SN/T 2003.3-2006 |
电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定 第3部分：X光射线荧光定量筛选法 |
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2006-11-15 |
废止 |
| SN/T 2004.1-2005 |
电子电气产品中汞的测定 第1部分:原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.2-2005 |
电子电气产品中铅、镉、铬的测定 第2部分:火焰原子吸收光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.3-2005 |
电子电气产品中六价铬的测定 第3部分:二苯碳酰二肼分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.4-2006 |
电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定 笫4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-15 |
现行 |
| SN/T 2004.6-2006 |
电子电气产品中汞的测定 第6部分:冷原子吸收法 |
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2007-03-01 |
废止 |
| SN/T 2004.7-2006 |
电子电气产品中铅、镉的测定 第7部分:原子荧光光谱法 |
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2007-03-01 |
现行 |
| SN/T 2005.1-2005 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定 第1部分：高效液相色谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2005.2-2005 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定第部分：气相色谱质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2005.3-2006 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定 第3部分：气象色谱-氢火焰离子化检测器 |
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2006-11-15 |
废止 |
| SN/T 2005.5-2006 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定 第5部分:高效液相色谱-串联质谱法 |
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2007-03-01 |
现行 |
| T/CIE 144-2022 |
半导体器件可靠性强化试验方法 |
中国电子学会
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2023-01-31 |
现行 |
| T/CIE 150-2022 |
现场可编程门阵列（FPGA）芯片时序可靠性测试规范 |
中国电子学会
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2023-01-31 |
现行 |
| T/CIE 151-2022 |
现场可编程门阵列（FPGA）芯片动态老化试验方法 |
中国电子学会
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2023-01-31 |
现行 |
| T/QGCML 2162-2023 |
磷酸铁锂正极材料产线规范要求 |
全国城市工业品贸易中.
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2023-11-25 |
现行 |
| T/QGCML 2290-2023 |
笔记本电脑转轴盖 |
全国城市工业品贸易中.
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2023-12-06 |
现行 |
| T/SLDHIA 4000-2024 |
LED室内照明智能控制技术规范 |
深圳市龙岗区高新技术.
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2024-01-31 |
现行 |
| T/SLEIA 0002-2024 |
电子元器件低频噪声特性测试标准 |
深圳市龙岗区电子行业.
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2024-02-26 |
现行 |