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| 英文名称： |
Intelligent computing—Test method for memristor—Part 2:Linearity |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.99其他半导体器件 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-04-30 |
| 实施日期： |
2026-11-01
即将实施 距离实施日期还有142天 |
| 提出单位： |
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32) |
| 归口单位： |
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32)、全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
中国科学院微电子研究所、之江实验室、浙江大学、中国人民解放军国防科技大学、河北大学、东北师范大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国信息通信研究院、中移(杭州)信息技术有限公司等 |
| 起草人： |
王忠新、许晓欣、孙文绚、时拓、马小雯、陈鹏、王中强、王明、闫小兵、李清江、钟鑫、刘山佳、顾海林、董红梁、黄唯静、张九六、周兰、蒙贵云、张丽静、徐海阳、李莹、刘琦、王义楠、杨彪、张乾、王斌强、张明明、滕耘、杨明、冯杰、刘海连、周芃、刘洪杰 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |