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| 英文名称： |
Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General |
 替代情况： |
替代GB/T 4937-1995 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.080半导体器件 |
| 采标情况： |
IEC 60749-1:2002 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2006-08-23 |
| 实施日期： |
2007-02-01
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| 首发日期： |
1985-02-06 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 起草人： |
陈海蓉、崔波 |
| 计划单号： |
20030194-T-339 |
| 页数： |
6页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2007-02-01 |
| 标准前页： |
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