| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10830-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５４型双外围正或非驱动器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10831-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７１９３ＣＰ色处理电路 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10832-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＤ７６１１ＣＰ图象中频放大电路 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10833-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＧ８０型高低频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10834-1996 |
电子器件详细规范 ＣＳ１１１、ＣＳ１１２、ＣＳ１１３、ＣＳ１１４、ＣＳ１１５、ＣＳ１１６型单栅结型场效应晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10835-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＫ１０５Ａ、３ＤＫ１０５Ｂ型开关用双极型晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10836-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＫ１０７Ａ、３ＤＫ１０７Ｂ型开关用双极型晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10837-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＧ１３１Ａ、３ＤＧ１３１Ｂ、３ＤＧ１３１Ｃ型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10838-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＺ２０１、２ＣＺ２０２、２ＣＺ２０３型开关整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10839-1996 |
ＸＹ２０碱性蓄电池 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1084-1976 |
镀铜溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10840-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０１型ＥＣＬ四２输入或／或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10841-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０２型ＥＣＬ四２输入或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10842-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０４型ＥＣＬ四２输入与门（可供认证用） |
国家标准局
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10843-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０５型ＥＣＬ三２，３，２输入或／或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10844-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０６型ＥＣＬ三４，３，３输入或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10845-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１０９型ＥＣＬ双４，５输入或／或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10846-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１１０型ＥＣＬ双３输入或门（３输出）（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10847-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１１１型ＥＣＬ双３输入或非门（３输出）（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10848-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１１７型ＥＣＬ双２路２－３输入或与／或与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10849-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＥ１０１２１型ＥＣＬ４路３－３－３－３输入或与／或与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1085-1976 |
镀锌溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10850-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ１０型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10851-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ１３型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10852-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ１５型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10853-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ１９型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10854-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ２６型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10855-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ２７型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10856-1996 |
电子器件详细规范 ＣＡ４２型固体电解质固定钽电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10857-1996 |
铬版 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10858-1996 |
玻璃及铬版表面平整度的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10859-1996 |
铬版铬膜和胶膜厚度的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/Z 1086-1976 |
镀镉溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10860-1996 |
铬版铬膜表面反射率的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10861-1996 |
铬版光密度的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10862-1996 |
助听器交货时质量检验的性能测量 |
电子工业部
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10863-1996 |
电子器件详细规范 ４７ＳＸ１０１Ｙ２２－ＤＣ０５型彩色显象管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10864-1996 |
盘封管电性能测试方法 总则 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10865-1996 |
盘封管电性能测试方法 频率响应特性的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10866-1996 |
盘封管电性能测试方法 频率位置的测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |