| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10797-1996 |
助听器及其有关设备的符号与标记 |
国家标准局
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10798-1996 |
电子器件详细规范 ＭＦ１１型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10798-2000 |
电子元器件详细规范 ＭＦ１１型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平Ｅ |
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2000-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10799-1996 |
电子器件详细规范 ＭＦ５３－１型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10799-2000 |
电子元器件详细规范 ＭＦ５３－１型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平Ｅ |
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2000-10-01 |
现行 |
| SJ/T 10800-1996 |
半导体集成接口电路读出放大器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10801-1996 |
半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10802-1996 |
半导体集成接口电路外围驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10803-1996 |
半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10804-1996 |
半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10804-2000 |
半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 |
信息产业部
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2001-03-01 |
废止 |
| SJ/T 10805-1996 |
半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10805-2000 |
半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 |
信息产业部
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2001-03-01 |
作废 |
| SJ/T 10806-1996 |
半导体集成接口电路显示驱动器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10807-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＬ６１、２ＣＬ６２、２ＣＬ６３、２ＣＬ６４、２ＣＬ６５、２ＣＬ６６、２ＣＬ６７．２ＣＬ６８型玻璃钝化封装高压硅堆（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10808-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０００型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10809-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００２型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1081-1976 |
电镀溶液典型分析方法的一般要求 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10810-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００４型ＴＴＬ六反相器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10811-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１００８型ＴＴＬ四２输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10812-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０１０型ＴＴＬ三３输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10813-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０２０型ＴＴＬ双４输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10814-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０２７型ＴＴＬ三３输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10815-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０３０型ＴＴＬ８输入与非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10816-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０４０型ＴＴＬ双４输入与非缓冲器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10817-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ１０５４型ＴＴＬ４路２－２－２－２输入与或非门（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10818-1996 |
半导体集成非线性电路数字／模拟转换器和模拟／数字转换器测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10819-1996 |
电子器件详细规范 ３５ＳＸ５Ｂ型黑白显象管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1082-1976 |
镀镍溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10820-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００１型ＨＴＬ双４输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10821-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００７型ＨＴＬ四反相器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10822-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００８型ＨＴＬ双４输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10823-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２００９型ＨＴＬ三３输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10824-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２０１０型ＨＴＬ四２输入与非门 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10825-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＨ２０１３型ＨＴＬ六反相器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10826-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５０型双外围正与驱动器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10827-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５１型双外围正与驱动器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10828-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５２型双外围正与非驱动器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10829-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＪ０４５３型双外围正或驱动器 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1083-1976 |
镀铬溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |