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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> L电子元器件与信息技术 >> L50/54 光电子器件 >> L52红外器件
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 DL/T 664-2016  带电设备红外诊断应用规范 国家能源局 2017-05-01 现行
 DL/T 664-1999  带电设备红外诊断技术应用导则 国家经济贸易委员会 1999-10-01 作废
 DL/T 664-2008  带电设备红外诊断应用规范 国家发展和改革委员会 2008-11-01 作废
 GB/T 13583-1992  红外探测器外形尺寸系列 国家技术监督局 1993-05-01 现行
 GB/T 13584-1992  红外探测器参数测试方法 国家技术监督局 1993-05-01 作废
 GB/T 13584-2011  红外探测器参数测试方法 国家质量监督检验检疫. 2012-07-01 现行
 GB/T 17444-1998  红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 国家质量技术监督局 1999-05-01 作废
 GB/T 17444-2013  红外焦平面阵列参数测试方法 国家质量监督检验检疫. 2014-04-15 现行
 GB/T 18904.1-2002  半导体器件 第12-1部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 国家质量监督检验检疫. 2003-05-01 现行
 SJ 20830-2002  铂硅红外焦平面探测器杜瓦组件通用规范 2003-03-01 现行
 SJ 20831-2002  4N红钱焦平面探测器杜瓦组件参数测试方法 2003-03-01 现行
 SJ 20955-2006  故障探测指示器通用规范 2006-12-30 现行
 SJ 51206-1-1995  H20DJ1型节流制冷光导硫化铅红外探测器 详细规范 2004-03-01 作废
 SJ 51206-2-1996  60H30DY2型液氮制冷60光导碲镉汞红外探测器详细规范 2004-03-01 作废
 找到14条相关标准,共1页 现行 即将实施 作废 废止 
 
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 L50 光电子器件组合[52] L51 激光器件[67] L52 红外器件[17] L53 半导体发光器件[23]
 L54 半导体光敏器件[5]      
 
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