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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
SJ 2534.13-1987
天线测试方法 电磁辐射的危害
电子工业部
1987-06-01
现行
SJ 2534.14-1985
天线测试方法 阻抗测量
1986-07-01
现行
SJ 2534.15-1987
天线测试方法 环境因素
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.16-1987
天线测试方法 功率容量的测量
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.2-1985
天线测试方法 天线测试场的设计
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.3-1984
天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图
电子工业部
1985-07-01
现行
SJ 2534.4-1985
天线测试方法 天线测试场的鉴定
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.5-1985
天线测试方法 特殊测量方法
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.6-1985
天线测试方法 天线测试场的操作
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2534.7-1986
天线测试方法 幅度方向图的现场测量
电子工业部
1986-10-01
现行
SJ 2534.8-1986
天线测试方法 相位测量
电子工业部
1986-10-01
现行
SJ 2534.9-1985
天线测试方法 极化测量
电子工业部
1986-07-01
现行
SJ 2560-1984
753型船用导航雷达技术条件
电子工业部
1985-10-01
废止
SJ 2572-1985
太阳能电池用硅单晶棒、片
电子工业部
1985-10-01
作废
SJ 2585-1985
雷达设备研制过程中可靠性监控程序
电子工业部
1986-01-01
废止
SJ 26-79
小功率电子管寿命试验方法
1980-06-01
现行
SJ/Z 2655-1986
锗单晶缺陷图集
1986-10-01
废止
SJ 2656-1986
钨的光谱分析方法
电子工业部
1986-10-01
现行
SJ 2657-1986
钼的光谱分析方法
电子工业部
1986-10-01
现行
SJ 2660-1986
软钎焊用树脂系焊剂试验方法
1986-10-01
作废
SJ 2662-1986
756型船用导航雷达技术条件
电子工业部
1986-10-01
废止
SJ 2674-1986
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器 评定水平E
电子工业部
1986-10-01
作废
SJ 2675-1986
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ17型金属膜固定电阻器 评定水平E
电子工业部
1986-10-01
作废
SJ 2715-1986
电子产品用字体和符号
1987-10-01
现行
SJ 2735-1986
电子产品图样绘制规则
1986-12-01
废止
SJ 2757-1987
重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
1987-07-01
现行
SJ 2758-1987
同型外延层厚度的红外干涉测试方法
1987-07-01
废止
SJ/Z 2782-1987
非蒸散型吸气剂激活全过程的气氛分析方法
1987-12-31
现行
SJ 2785-1987
雷达产品随机文件
电子工业部
1987-10-01
废止
SJ 2794-1987
电子级氢
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2795-1987
电子级氮
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2796-1987
电子级氧
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2797-1987
电子级氩
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2798-1987
电子级气体中颗粒的测定方法 光散射法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2799-1987
电子级气体中痕量水分子的测定方法 目视露点法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2800-1987
电子级气体中痕量甲烷的测定方法 氢焰色谱法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2801-1987
电子级气体中痕量一氧化碳的测定方法 预切割氢焰转化色谱法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2802-1987
电子级气体中痕量二氧化碳测定方法 氢焰转化色谱法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2803-1987
电子级氧中痕量二氧化碳测定方法 预切割氢焰转化色谱法
电子工业部
1988-01-01
废止
SJ 2804.1-1987
电子级氩中痕量氮测定方法 变温浓缩色谱法(一)
电子工业部
1988-01-01
废止
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