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第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了关于单片微波集成电路的设计、制造和交付的术语、定义、符号、质量体系、测试、评价、验证方法以及其他要求。 标准定价: ￥ 81.0 元         GB/T 20870.5-2023 半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了微波集成电路振荡器的术语、基本额定值、特性以及测试方法。 本文件适用于固定频率振荡器和微波压控振荡器，需要外部控制器的振荡器模块(如合成器)除外。 注：本文件不适用于IEC 60679-1规定的石英晶体振荡器。 标准定价: ￥ 59.0 元         GB/T 22317.401-2023 有质量评定的压电滤波器 第4-1部分：空白详细规范 能力批准  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 优先额定值包括： ——工作温度范围； ——气候类型； ——机械试验严酷度。 标准定价: ￥ 29.0 元         GB/T 22317.4-2023 有质量评定的压电滤波器 第4部分：分规范 能力批准  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了总规范中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，并给出了在压电滤波器详细规范中采用的通用性能要求。 本文件适用于质量评定以能力批准为基础的、按定制产品或标准产品制作的压电滤波器。 标准定价: ￥ 43.0 元         GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。 方法A以IEC 60444-5的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。 基准测量方法B依据IEC 60444-5或 ... 标准定价: ￥ 38.0 元         GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。 附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。 标准定价: ￥ 43.0 元         GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了集成电路（IC）对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。 标准定价: ￥ 41.0 元         GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。 其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。 标准定价: ￥ 29.0 元         GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了半导体集成电路视频编解码（video encoder and decoder）电路中的模拟视频接口类电路电特性测试方法。 本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。 标准定价: ￥ 54.0 元         GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了微波电路中检波器的电参数测试方法。 本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试，包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。 标准定价: ￥ 43.0 元         GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。 本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。 标准定价: ￥ 38.0 元         GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了数字模拟（DA）转换器（以下简称DA转换器或DAC）的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。 标准定价: ￥ 59.0 元         找到245300条相关标准，共16354页 [1386] [1387] [1388] [1389] [1390] [1391] [1392] [1393] 1394 [1395] [1396] [1397] [1398] [1399] [1400] [1401] [1402] [下一页]

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