半导体光敏二极管结电容的测试方法 |
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| 标准编号：SJ 2214.5-1982 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
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| 英文名称： |
Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被SJ/T 2214-2015代替 |
| 中标分类： |
通信、广播>>通信、广播综合>>M01技术管理 |
| 发布日期： |
1982-11-30 |
| 实施日期： |
1983-07-01
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| 作废日期： |
2015-10-01
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| 页数： |
1页 |
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