硅开关二极管反向击穿电压的测试方法 |
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| 标准编号：SJ 966-75 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
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| 英文名称： |
Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes |
 中标分类： |
能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理 |
| 发布日期： |
1975-07-26 |
| 实施日期： |
1976-06-01
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| 页数： |
2页 |
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