X射线晶体定向仪 技术条件 |
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标准编号:JB/T 5482-2004 |
标准状态:已作废 |
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标准价格:10.0 元 |
客户评分: |
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本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 |
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英文名称: |
The specification for X-ray Crystal Orientation apparatus |
标准状态: |
已作废 |
替代情况: |
JB/T 5482-1991;被JB/T 5482-2011代替 |
中标分类: |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
ICS分类: |
计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 |
发布部门: |
中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
发布日期: |
2004-06-17 |
实施日期: |
2004-11-01
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作废日期: |
2012-04-01
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提出单位: |
中国机械工业联合会 |
归口单位: |
全国试验机标委会、辽宁仪表研究所 |
起草单位: |
丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等 |
起草人: |
赵久、刘海燕、王永利、王大新、赵显风等 |
批文号: |
发改委2004-30 |
页数: |
7页 |
出版社: |
机械工业出版社 |
书号: |
15111.7416 |
出版日期: |
2004-11-01 |
标准前页: |
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