|
| 英文名称： |
Test method for extinction ratio of LN,kDP and kD*P electrooptic crystal |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 11297.12-2012代替 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料 |
| ICS分类： |
电子学>>31.020电子元件综合 |
| 发布部门： |
中华人民共和国机械电子工业部 |
| 发布日期： |
1988-10-09 |
| 实施日期： |
1990-01-01
|
| 作废日期： |
2013-06-01
|
| 首发日期： |
1989-03-31 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
信息产业部（电子） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
机械电子工业部第十一研究所和山东大学晶体所 |
| 起草人： |
张培河、邵宗书 |
| 页数： |
2页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 标准前页： |
|
|