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| 英文名称： |
Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement |
 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-06-30 |
| 实施日期： |
2026-01-01
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| 提出单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 归口单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 起草单位： |
上海交通大学、上海市计量测试技术研究院、上海大学、中国计量科学研究院、吉林大学、南京景曜智能科技有限公司 |
| 起草人： |
沈轶、孙洁林、蔡潇雨、李源、胡钧、李适、马志超、王春梅 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |