硅单晶电阻率标准样片校准规范 |
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| 标准编号：JJF 1760-2019 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：27.0 元 |
客户评分：  |
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本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。 |
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| 英文名称： |
Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity |
 替代情况： |
替代JJG 48-2004 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 |
| 发布日期： |
2019-09-27 |
| 实施日期： |
2020-03-27
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| 归口单位： |
全国无线电计量技术委员会 |
| 起草单位： |
中国计量科学研究院 |
| 起草人： |
高英、李兰兰 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2020-05-01 |
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