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英文名称: |
Probe test method for light emitting diode chips |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管 |
ICS分类: |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2018-09-17 |
实施日期: |
2019-01-01
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归口单位: |
中华人民共和国工业和信息化部(电子) |
主管部门: |
中华人民共和国工业和信息化部(电子) |
起草单位: |
三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司 |
起草人: |
蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋 |
页数: |
12页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2018-09-01 |
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