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| 英文名称: |
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds |
中标分类: |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
ICS分类: |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
采标情况: |
ISO/TR 18392:2005 IDT |
| 发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期: |
2016-02-24 |
| 实施日期: |
2017-01-01
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| 复审日期: |
2023-12-28 |
| 提出单位: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
归口单位: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 主管部门: |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 起草单位: |
清华大学、中山大学 |
| 起草人: |
李展平、陈建、姚文清、谢方艳、曹立礼、朱永法 |
| 页数: |
16页 |
| 出版社: |
中国标准出版社 |
| 出版日期: |
2017-01-01 |