有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法 |
 |
| 标准编号：SJ/T 11461.5.3-2016 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
|
本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法。标准的范围为OLED显示器的屏体和模组。残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点，对残像的测试图形，以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定。寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定，同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命。 |
|
|
|
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被SJ/T 11461.5.3-2023代替 |
| 采标情况： |
IEC 62341-5-3:2013,IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2016-01-15 |
| 实施日期： |
2016-06-01
|
| 作废日期： |
2023-11-01
|
| 出版日期： |
2016-06-01 |
|
|
|
| 用户：29935663 于 2016-06-08 16:40:05 使用 ：58.210.121.* |
查看此贴 |
关于《SJ/T 11461.5.3-2016 有机发光二极管显示器件 第5-3部分：残像和寿命的测试方法》标准的讨论
什么时候可以购买？ |
|
|
| |