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薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

国家标准
标准编号:GB/T 20724-2006 标准状态:已作废
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。
英文名称:  Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  GB/T 20724-2021代替
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2007-03-26
实施日期:  2007-08-01
作废日期:  2022-07-01
首发日期:  2006-12-25
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会
主管部门:  国家标准化管理委员会
起草单位:  北京科技大学
起草人:  柳得橹
计划单号:  20067042-T-469
页数:  平装16开 页数:7, 字数:8千字
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066·1-29497
出版日期:  2007-06-01
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