标准分类
最新标准
New!
标准公告
标准动态
标准论坛
高级查询
帮助
|
登录
|
注册
您的位置:
工标网
>>
电子行业标准(SJ)
>> SJ 1609-1980
收藏本站
联系客服
硅双基极二极管分压比的测试方法
标准编号:
SJ 1609-1980
标准状态:
已作废
标准价格:
15.0
元
客户评分:
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
如何购买?问客服
标准简介
标准状态:
已作废
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
半导体分立器件
>>
L40半导体分立器件综合
实施日期:
2002-05-01
[
评论
][
关闭
]
半导体分立器件综合相关标准
第1页
第2页
SJ 50033/155-2002 半导体分立器件 3DG252型硅微波线性晶体管详细规范
SJ 50033/156-2002 半导体分立器件 3DA505型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
SJ 50033/157-2002 半导体分立器件 3DA506型硅微波脉冲功率晶体管详细规范
SJ 50033/158-2002 半导体分立器件 3DG44型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SJ 50033/159-2002 半导体分立器件 3DG142型硅超高频低噪声晶体管详细规范
SJ 50033/160-2002 半导体分立器件 3DG122型硅超高频小功率晶体管详细规范
T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序
T/CIE 119-2021 半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序
T/CIE 121-2021 逆导型IGBT的热阻测试方法
T/CIE 145-2022 辐射诱生缺陷的深能级瞬态谱测试方法
免费下载
半导体分立器件综合标准
相关目录
发表留言
内 容
用户:
口令:
匿名发表
客服中心
有问题?找在线客服
400-7255-888
1197428036
992023608
18976748618
13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题
帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您可能还需要
更多
半导体器件 分立器件和集成电路 第5..
液晶和固态显示器件 第2部分:液晶显..
半导体器件 分立器件分规范
半导体分立器件型号命名方法
半导体分立器件文字符号
半导体器件 第10部分:分立器件和集..
半导体器件机械和气候试验方法
半导体器件参数符号
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
搜索更多
中搜索:
SJ 1609-1980 硅双基极二极管分压比的测试方法
中搜索:
SJ 1609-1980 硅双基极二极管分压比的测试方法
中搜索:
SJ 1609-1980 硅双基极二极管分压比的测试方法
中搜索:
SJ 1609-1980 硅双基极二极管分压比的测试方法
中搜索:
SJ 1609-1980 硅双基极二极管分压比的测试方法
付款方式
-
关于我们
-
帮助中心
-
联系我们
-
诚聘英才
-
合作伙伴
-
使用条款
购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888
(工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)
QQ:
1197428036
992023608
有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved