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电子行业标准(SJ)
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半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
标准编号：
SJ/T 10740-1996
标准状态：
已废止
标准价格：
22.0
元
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标准简介
英文名称：
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for bipolar random access memories
标准状态：
已废止
替代情况：
原标准号
GB 3444-82
中标分类：
化工
>>
化工综合
>>
G01技术管理
采标情况：
IEC 147-2 NEQ
发布日期：
1996-11-20
实施日期：
1997-01-01
作废日期：
2010-01-20
页数：
33页
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