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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB/T 6609.37-2009  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第37部分:粒度小于20μm颗粒含量的测定 国家质量监督检验检疫. 2010-02-01 作废
 GB/T 6609.4-1986  氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定氧化铁量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.4-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 6609.5-1986  氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钠量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.5-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 氧化钠含量的测定 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 6609.6-1986  氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钾量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.6-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 火焰光度法测定氧化钾含量 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 作废
 GB/T 6609.7-1986  氧化铝化学分析方法 三辛基氧化膦 -硫氰酸盐光度法测定二氧化钛量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.7-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 二安替吡啉甲烷光度法测定二氧化钛含量 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 6609.8-1986  氧化铝化学分析方法 二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.8-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬含量 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 6609.9-1986  氧化铝化学分析方法 二乙基二硫代氨基甲酸铅光度法测定氧化铜量 1987-07-01 作废
 GB/T 6609.9-2004  氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 新亚铜灵光度法测定氧化铜含量 国家质量监督检验检疫. 2004-07-01 现行
 GB/T 661-1992  化学试剂 六水合硫酸铁(Ⅱ)铵(硫酸亚铁铵) 中国石油和化学工业协. 1993-07-01 作废
 GB/T 6610.1-1986  氢氧化铝化学分析方法 重量法测定水分 1987-07-01 作废
 GB/T 6610.1-2003  氢氧化铝化学分析方法 重量法测定水分 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 作废
 GB/T 6610.2-1986  氢氧化铝化学分析方法 重量法测定灼烧失量 1987-07-01 作废
 GB/T 6610.2-2003  氢氧化铝化学分析方法 重量法测定灼烧失量 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 作废
 GB/T 6610.3-1986  氢氧化铝化学分析方法 钼蓝光度法测定二氧化硅量 1987-07-01 作废
 GB/T 6610.3-2003  氢氧化铝化学分析方法 钼蓝光度法测定二氧化硅含量 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 作废
 GB/T 6610.4-1986  氢氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定氧化铁量 1987-07-01 作废
 GB/T 6610.4-2003  氢氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 作废
 GB/T 6610.5-1986  氢氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钠量 1987-07-01 作废
 GB/T 6610.5-2003  氢氧化铝化学分析方法 氧化纳含量的测定 国家质量监督检验检疫. 2004-05-01 作废
 GB 6611-1986  钛及钛合金术语 中国有色金属工业协. 1987-07-01 作废
 GB/T 6611-2008  钛及钛合金术语和金相图谱 国家质量监督检验检疫. 2008-12-01 现行
 GB/T 6612-1986  重要用途的TA7钛合金板材 中国有色金属工业协. 1987-07-01 作废
 GB 6613-1986  重要用途的TC4钛合金板材 中国有色金属工业协会 1987-07-01 作废
 GB 6614-1986  钛及钛合金铸件 1987-07-01 作废
 GB/T 6614-1994  钛及钛合金铸件 国家技术监督局 1994-12-01 作废
 GB/T 6614-2014  钛及钛合金铸件 国家质量监督检验检疫. 2015-06-01 现行
 GB 6615-1986  硅片电阻率的直排四探针测试方法 1987-07-01 作废
 GB 6616-1986  硅片电阻率的非接触式测试方法 1987-07-01 作废
 GB/T 6616-1995  半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
 GB/T 6616-2009  半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 作废
 GB 6617-1986  硅片电阻率的扩展电阻探针测试方法 1987-07-01 作废
 GB/T 6617-1995  硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
 GB/T 6617-2009  硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 国家质量监督检验检疫. 2010-06-01 现行
 GB 6618-1986  硅片厚度和总厚度变化的测试方法 1987-07-01 作废
 GB/T 6618-1995  硅片厚度和总厚度变化测试方法 国家技术监督局 1995-01-02 作废
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