标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 6609.37-2009 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第37部分:粒度小于20μm颗粒含量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
作废 |
GB/T 6609.4-1986 |
氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定氧化铁量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.4-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
现行 |
GB/T 6609.5-1986 |
氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钠量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.5-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 氧化钠含量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
现行 |
GB/T 6609.6-1986 |
氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钾量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.6-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 火焰光度法测定氧化钾含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.7-1986 |
氧化铝化学分析方法 三辛基氧化膦 -硫氰酸盐光度法测定二氧化钛量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.7-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 二安替吡啉甲烷光度法测定二氧化钛含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
现行 |
GB/T 6609.8-1986 |
氧化铝化学分析方法 二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.8-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
现行 |
GB/T 6609.9-1986 |
氧化铝化学分析方法 二乙基二硫代氨基甲酸铅光度法测定氧化铜量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6609.9-2004 |
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 新亚铜灵光度法测定氧化铜含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-07-01 |
现行 |
GB/T 661-1992 |
化学试剂 六水合硫酸铁(Ⅱ)铵(硫酸亚铁铵) |
中国石油和化学工业协.
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1993-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.1-1986 |
氢氧化铝化学分析方法 重量法测定水分 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.1-2003 |
氢氧化铝化学分析方法 重量法测定水分 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
GB/T 6610.2-1986 |
氢氧化铝化学分析方法 重量法测定灼烧失量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.2-2003 |
氢氧化铝化学分析方法 重量法测定灼烧失量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
GB/T 6610.3-1986 |
氢氧化铝化学分析方法 钼蓝光度法测定二氧化硅量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.3-2003 |
氢氧化铝化学分析方法 钼蓝光度法测定二氧化硅含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
GB/T 6610.4-1986 |
氢氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定氧化铁量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.4-2003 |
氢氧化铝化学分析方法 邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
GB/T 6610.5-1986 |
氢氧化铝化学分析方法 火焰光度法测定氧化钠量 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6610.5-2003 |
氢氧化铝化学分析方法 氧化纳含量的测定 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
GB 6611-1986 |
钛及钛合金术语 |
中国有色金属工业协.
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6611-2008 |
钛及钛合金术语和金相图谱 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB/T 6612-1986 |
重要用途的TA7钛合金板材 |
中国有色金属工业协.
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6613-1986 |
重要用途的TC4钛合金板材 |
中国有色金属工业协会
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6614-1986 |
钛及钛合金铸件 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6614-1994 |
钛及钛合金铸件 |
国家技术监督局
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1994-12-01 |
作废 |
GB/T 6614-2014 |
钛及钛合金铸件 |
国家质量监督检验检疫.
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2015-06-01 |
现行 |
GB 6615-1986 |
硅片电阻率的直排四探针测试方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6616-1986 |
硅片电阻率的非接触式测试方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6616-1995 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6616-2009 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB 6617-1986 |
硅片电阻率的扩展电阻探针测试方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6617-1995 |
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6617-2009 |
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB 6618-1986 |
硅片厚度和总厚度变化的测试方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6618-1995 |
硅片厚度和总厚度变化测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |