| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 11497.1-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 15650-1995 |
半导体集成电路系列和品种CMOS门阵列电路系列的品种 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
作废 |
| GB/T 17023-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17024-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17572-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
| GB 3834-1983 |
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 |
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1984-07-01 |
作废 |
| GB/T 41033-2021 |
CMOS集成电路抗辐射加固设计要求 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 43063-2023 |
集成电路 CMOS图像传感器测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB 9424-1988 |
CMOS数字集成电路4000系列电路空白详细规范 (可供认证用) |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB/T 9424-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB 9426-1988 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CC1013型CMOS双上升沿D触发器 |
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1989-02-01 |
作废 |
| GB 9427-1988 |
电子器件详细规范 半导体集成电路CC4518型CMOS双十进制同步计数器(可供认证用) |
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1989-02-01 |
作废 |
| SJ 20277-1993 |
半导体集成电路 JC4001、JC4002型CMOS或非门详细规范 |
电子工业部
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1993-07-01 |
现行 |
| SJ 20278-1993 |
半导体集成电路JC4014、JC4015和JC4021型CMOS移位寄存器详细规范 |
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1993-07-01 |
现行 |
| SJ 20750-1999 |
军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片规范 |
信息产业部
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1999-12-01 |
现行 |
| SJ 20758-1999 |
半导体集成电路CMOS门阵列器件规范 |
信息产业部
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1999-12-01 |
现行 |
| SJ 50597.6-1994 |
半导体集成电路JC4049、JC4050型CMOS缓冲器电平转换器详细规范 |
中华人民共和电子工业.
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1974-01-01 |
现行 |
| SJ 50597/39-1996 |
半导体集成电路 JC54HC221型HCMOS双单稳态触发器（斯密特触发输入）详细规范 |
信息产业部
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ 50597/40-1996 |
半导体集成电路 JC54HC75、JC54HC259、JC54HC373、JC54HC533和JC54HC573型HCMOS锁存器详细规范 |
信息产业部
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1997-01-01 |
现行 |